公開された: 2022-02-11 起源: パワード
IGBTパワー半導体モジュールは現在のパワーエレクトロニクス機器の中核部品であり、熱の蓄積は機器の安全性、信頼性、性能に重大な影響を与えます。熱放散の問題はますます顕著になり、モジュール冷却の要件も高まっています。
通常の状況下では、IGBT モジュールに流れる電流は比較的大きく、スイッチング周波数は比較的高いため、IGBT モジュールデバイスの損失が比較的大きくなり、デバイスの温度が高くなりすぎ、放熱が低下します。 IGBT モジュールが破損すると、損傷が発生し、機械全体の動作に影響を与えます。
IGBT の過熱の原因としては、駆動波形不良や過電流、スイッチング周波数の高さ、放熱不良などが考えられます。
特に機器の出力が非常に高い場合(メガボルトアンペアレベル)、エアダクトの設計、空気圧の供給、騒音指数などの条件を実装するのは非常に困難になります。
従来の強制空冷技術では、機器の放熱に対応できなくなりました。要件、 液体コールドプレート より強力な放熱能力を備えており、高出力 IGBT パワー半導体デバイスの放熱システムでの使用に適しています。
現在のところ、 水冷 放熱技術は徐々に普及しつつあります。水冷放熱技術の進歩と継続的な改善により、今日の水冷放熱はより安全で耐久性が高く、コストも削減されています。
設置やメンテナンスに多少の不便さはありますが、長期的な視点で考えれば、水冷技術は活用する価値があります。